GaSb單晶由于其晶格常數(shù)與帶系在 0.8~4.3um寬光譜范圍內(nèi)的各種三元和四元,III-V族化合物固熔體的晶格常數(shù)匹配,因為GaSb可以作為襯底材料用作制備適合某些紅外光纖傳輸?shù)募す馄骱吞綔y器,GaSb也被預(yù)見具有晶格限制遷移率大于GaAs,使得它在制作微波器件方面具有潛在的應(yīng)用前景。GaS單晶材料的主要生長方法,包括傳統(tǒng)液封直拉技術(shù)(LEC)、改進的LEC技術(shù)、移動加熱法/垂直梯度凝固技術(shù)(VGF)/垂直布里奇曼技術(shù)(VBG)等。
晶體 |
GaSb
|
結(jié)構(gòu) |
立方
a=6.094A
|
晶向 |
<100>
|
熔點 | 712oC |
密度 |
5.53g/cm3
|
禁帶寬度 |
0.67
|
單晶
|
摻雜
|
導(dǎo)電類型
|
載流子濃度
cm-3
|
遷移率(cm2/V.s)
|
位錯密度(cm-2)
|
標(biāo)準(zhǔn)基片
|
|
GaSb
|
本征
|
P
|
(1-2)*1017
|
600-700
|
《1*104
|
Φ2″×0.5mm
Φ3″×0.5mm
|
|
GaSb
|
Zn
|
P
|
(5-100)*1017
|
200-500
|
《1*104
|
Φ2″×0.5mm
Φ3″×0.5mm
|
|
GaSb
|
Te
|
N
|
(1-20)´1017
|
2000-3500
|
《1*104
|
Φ2″×0.5mm
Φ3″×0.5mm
|
|
尺寸(mm)
|
Dia50.8x0.5mm,10×10×0.5mm、10×5×0.5mm可按照客戶需求,定制特殊方向和尺寸的襯底
|
||||||
表面粗糙度
|
Surface roughness(Ra):<=5A
可提供原子粒顯微鏡(AFM)檢測報告 |
||||||
拋光
|
單面或雙面
|
||||||
包裝
|
100級潔凈袋,1000級超凈室
|